X射线荧光镀层测厚仪EDX-V 天瑞仪器厂家 上照式 大平台
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江苏-苏州市
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发货期限20天
有效期长期有效
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产品属性
加工定制
类型
镀层测厚仪
型号
EDX-V
测量范围
0~50um
提供加工定制
所有参数

X射线荧光镀层测厚仪EDX-V 是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。

性能优势
1、结合镀层行业微小样品的检测需求,专门研发适用于镀层检测的超近光路系统,减少能量过程损耗。搭载**的多导毛细管聚焦管,极大的提升了仪器的检测性能,聚焦强度提升1000~10000倍,更高的检测灵敏度和分析精度以及高计数率保证测试结果的**性和稳定性。
2、全景+微区双相机设计,呈现全高清广角视野,让样品观察更全面;微米级别分辨率,更好的满足超微产品的测试,让测试更广泛更便捷。
3、**的多导毛细管技术,信号强度比金属准直系统高出几个数量级。
4、多规格可选的多导毛细管,很好的满足用户不同测试需求。
5、高精度XYZ轴移动测试平台,结合双激光点位定位系统,可实现在样品测试过程中的全自动化感受一键点击,测试更省心。

产品应用领域
测量超微小部件和结构,如:印制线路板、连接器或引线框架等;
分析超薄镀层,如:厚度薄至2nm的Au镀层和≤30nm的Pd镀层;
测量电子和半导体行业中的功能性镀层;
分析复杂的多镀层系统;
全自动测量,如:用于质量控制领域;
符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556标准。

 

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江苏天瑞仪器股份有限公司
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2006成立时间
100000万注册资本
1000-3000人公司规模
2个资质证书
联系方式 荣誉资质 企业档案

电话13814856624

传真0512-50355809

手机15150330341

QQ481716598

地址中华园西路1888号

发证时间:2011-07-07
发证时间:2014-07-04
工商信息
统一社会信用代码913205007899341254
成立日期2006年07月04日
组织机构代码789934125
经营状态存续
法定代表人刘召贵
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更新时间:2024-09-25
首页 分类 世界工厂 我的 客服
产品属性
加工定制
类型
镀层测厚仪
型号
EDX-V
测量范围
0~50um
提供加工定制
显示方式
电脑显示
电源电压
220V
品牌
天瑞仪器
分析范围
2nm~50000nm
关闭
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