天瑞仪器X射线荧光测厚仪EDX-T 多准直孔自动切换
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产品属性
加工定制
类型
镀层测厚仪
型号
EDX-T
测量范围
0~60um
提供加工定制
所有参数

X射线荧光测厚仪EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦**分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

应用领域
分析超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
测量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及电镀液分析
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

设计亮点
全新上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。可变焦高精双摄像头,搭配距离补正系统,呈现全高清广角视野,更好地满足微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。独立的高精度伺服电机扩大XY平台移动范围,可多点编程、网格编程、矩阵编程,自动完成客户多个产品及多个测试点的连续测量,大大提高测样效率。自带数据校正系统,保证测量数据的稳定性。

 

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江苏天瑞仪器股份有限公司
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2006成立时间
100000万注册资本
1000-3000人公司规模
2个资质证书
联系方式 荣誉资质 企业档案

电话13814856624

传真0512-50355809

手机15150330341

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地址中华园西路1888号

发证时间:2011-07-07
发证时间:2014-07-04
工商信息
统一社会信用代码913205007899341254
成立日期2006年07月04日
组织机构代码789934125
经营状态存续
法定代表人刘召贵
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更新时间:2024-09-25
首页 分类 世界工厂 我的 客服
产品属性
加工定制
类型
镀层测厚仪
型号
EDX-T
测量范围
0~60um
提供加工定制
显示方式
电脑液晶
电源电压
220V
外形尺寸
660mm×860mm×735mm
品牌
天瑞仪器
探测器
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