TESCAN 聚焦离子束扫描电镜
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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 聚焦离子束扫描电子显微镜
双束聚焦扫描电镜FIB-SEM
FIB-SEM
双束电镜（FIB-SEM）是一款集成了电子束和离子束的电子显微镜系统。SEM 镜筒提供高分辨成像能力，FIB 镜筒能在成像的同时对样品进行加工处理。双束电镜系统开创了一种全新的应用方式。
双束电镜系统的配置使得电子束和离子束的聚焦点重合，这在很多应用中可以获得最优化的结果。这一特点也使得仪器在完成 FIB 铣削任务的同时，可以进行 SEM 实时成像----这对于精度要求极高的 FIB 操作有很大帮助，使得操作性能和工作效率实现重大飞跃。
主要型号：
TESCAN AMBER
TESCAN SOLARIS
TESCAN AMBER X
TESCAN SOLARIS X
我们提供多种配置的 FIB-SEM 系统，能够满足从常规工业应用到**和具有挑战性的工艺应用，这些应用要求在成像和微/纳米机械的复杂工作流程方面达到很高的标准。
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