X射线光电子能谱分析(XPS测试)

X射线光电子能谱是分析物质表面化学性质的一项技术。X射线检测技术(Radioaraphicesting，即RT)是利用射线(X射线

射线中子射线等)穿过物体时的吸收和散射的特性，检测其内部结构不连续性的技术。XPS可测量材料中元表组成，经验公

式元素化学态和电子态。用一束X射线激发固体表面，同时测量被分析材料表面1-10nm内发射出电子的动能，而得到XPS

谱。光电子谱记录超过一定动能的电子。光电子谱中出现的谱峰为原子中一定特征能量电子的发射，光电子谱峰的能量和强度可用于定性和定量分析所有表面元毒(气元毒除外)。

X射线光电子能谱分析(XPS测试)被广泛应用范围

无机材料和有机材料中，如合金、半导体、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙齿、骨骼、移植物、生物材料、油脂、胶水、金属、合金、半导体、有机物、无机物、薄膜、纳米材料等

XPS主要能够分析以下方面的内容:

1.元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H，He以外的所有元素。

2.元素的定量分析。根据能谱图中光电子谱线强度(光电子峰的面积)反应原子的含量或相对浓度。

3.固体表面分析。包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等。

4.化合物的结构。可以对内层电子结合能的化学位移**测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。

5分子生物学中的应用。如利用XPS鉴定维生素B12中的少量的Co。

6.样品内部结构三维可视化

7.内部结构尺寸测量

8.不同组分结构二维/一维表征及形态学分析

9.内部缺陷/孔隙/梨纹表征及形态学统计，分析

10.纤维类样品三维空间取向统计、分析

11.材料内部渗流模拟与分析计算

12.多孔材料壁厚分析

13颗粒之间夹杂物以及表面包事物体积计算

14.材料内部成分均匀性计算