产品介绍:
SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪,实现了缺陷和定向双功能。
产品特点:
■ 缺陷和定向双功能 ■ 配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用
■ 表格和曲线的形式显示,一目了然
■ 速度快,重复性好
■ 效率高,数据实时处理
技术参数:
■ 测试时间:1-2分钟
■ 重复性精度:≤±5″。 ■ 测角精度为±15″
■ *小读数1″
典型客户:
台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。
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