高低温试验箱的试验步骤：

　　1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

　　2.初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。

　　3、样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下降温，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会发热，降温会很慢，必须先冻透，再通电试验。

　　4、在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱(室)内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。

　　5、进行老化测试，观察数据存在数据对比错误。

　　6、高温和低温试验分别重复10次。

　　7、重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

　　8、恢复:试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。

　　9、后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。

如果测试过程中没有正常工作，则视为测试失败。