温升测试试验是全世界各国电器及电子元器件产品安全性能的重要指标之一，在安全试验中，温升测试是不可或缺的一环。一般而言，温升值不受环境温度的影响。因为温升值是测量出来的温度与环境温度的差值。如环境温度是T0，测试出的产品的工作时的温度是T1,则T1-T0=K就是温升。对产品而言，温升值是固定的，不随产品使用环境变化而变化。

  温升是指导体通流后产生电流热效应，随着时间的推移， 导体表面的温度不断地上升直至稳定。稳定的判断条件是在所有测试点在1个小时测试间隔内前后温差不超过2K，此时测得任意测试点的温度与测试**1/4周期环境温度平均值的差值称为温升，单位为K。

  为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试其重要元件（如金属铜引脚、接线端子金属部份、开关金属部位等）的温升，将被测设备置于高于其额定工作温度（T。=25℃）的某一特定温度（T=70℃）下运行，稳定后记录其元件高于环境温度的温升，验证此产品的设计是否合理。T-T。=K, K就是电子产品的温升。如中国**标准GB13140.1/IEC60998-1:2008《家用和类似用途低压电路用的连接器件》规定连接器件中的夹紧件的载流部件温升不应超过45K, 就是指T-T。=K的温度差不能超过45℃.

  温升取决于电器产品运行中发热情况和散热情况，针对电子元器件的温升，则是指金属部分通过电流时发热的情况，以及引起到元器件别的部位发热时的温度情况。这主要取决于金属部件的材质及电镀状况，以及设计是否合理。但如果金属部件的材质是合格的，别的部位的材质是不合格的，产品也就不合格。如针对一款接线端子来说，如果环境温度T0=40℃，测得的金属接线柱的温度T1=85℃, 这时T1-T0=45℃,没超过**标准，但测得外壳的温度达到90℃，并且外壳发黄变色，这时外壳也就不合格了。 

  温升试验是型式试验。

  在美国UL标准中，针对端子、连接器的的测试后几道顺序是：温升-耐电压-热循环这样的顺序，这里的温升就是静态加热温升测试，热循环就是循环加热温升测试。UL是全世界认可的测试标准之一，德国的VDE的温升标准与UL类似，TUV的温升测试还有高温环境下（40-45℃）的测试。

  中国**标准的IEC的温升测试属于是静态加热温升测试和长期加热温升测试，如IEC13140.3-2008规定对无螺纹端子要进行192个周期的测试，试验时，加热箱（室）的温度由20℃-40℃-30℃-20℃变化，并同时测量电压降测试。

  在德国ＴＵＶ认证测试方法中，对于电子板中大功率元器件的温升试验增加高温的环境温试，高温范围40-45℃， 对连接器温升测试在环境温度：85℃时进行。测试条件更严酷。

         由此，可看出，温升测试实验是全世界各国标准中测试比较严格的测试标准。因为它是反应产品在实用环境下通电过程中真正的安全性能，温升不合格，产品全出短路、断路、烧毁电器，引起火灾等事故。