X射线成像系统:
X射线成像系统,平板探测器;
动态平板探测器:
型号 |
5863 |
类型 |
CMOS |
有效面积 |
58.6mm*63mm |
像素矩阵 |
1172*1260 |
像素尺寸 |
50µm |
闪烁体 |
CsI |
能量范围 |
40kV~120kV |
ROI |
支持自定义 |
触发模式 |
内触发/外触发 |
空间分辨率 |
≥10.0lp/mm@1×1 |
图像位数 |
16bit |
*大帧速率 |
>16fps @1x1,>32fps @2x2 |
MTF |
≥60%@1lp/mm,≥30%@2lp/mm |
电源 |
DC12V±10% |
功耗 |
≤10W |
使用环境 |
+10ºC~+40ºC |
存储环境 |
-20ºC~+60ºC |
整机尺寸(W×L×H) |
180mm×193mm×56mm |
重量 |
2kg |
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