15JM测量显微镜
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产品属性
类型
光学显微镜
品牌
上光
型号
15JM
所有参数

15JM测量显微镜

15JM测量显微镜是一种光学计量仪器,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:
  1.直角座标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔圆直径等等。
  2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
  3.用作观察显微镜,以比较检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等,可广泛适用于光学、机械、电子行业的几何尺寸精密测量。特别是刃具行业的形状测量。

仪器主要技术规格
◆规格
物 镜  2X
目 镜  15X
工作距离(毫米)58.00~7.81
视场直径(毫米) 5.6~1.4
◆测量工作台读数装置主要规格
x轴移动测量范围:      50毫米   
y轴移动测量范围:      50毫米   
测微器分度值:         0.005毫米   
测量台旋转分度值   360°/6'
米字分划旋转分度值    360°/6'
透射, 反射照明     任选,可调Option
测量地点温度变化20℃±3℃,L—被测件长度 20℃±3℃,
仪器之主要尺寸:测量台与物镜间之**距离:80毫米
测量工作台直径:  120毫米
仪器外形尺寸:  高325*长262*宽220毫米
仪器重量级:     约10.6公斤

选配件
4X、10X物镜,数显手轮

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上海精贤光电科技有限公司
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工商信息
统一社会信用代码91310110760595502M
成立日期2004年03月26日
组织机构代码760595502
经营状态存续
法定代表人胡悦
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更新时间:2017-09-08
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产品属性
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光学显微镜
品牌
上光
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15JM
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