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日置阻抗分析仪IM7583高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：最快0.5ms

测量频率：1MHz~600MHz

测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）

基本精度：±0.65% rdg.

紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小

丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）

使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

日置IM7583阻抗分析仪主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

基本参数

日置IM7583阻抗分析仪   （精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）

测量模式 LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量

测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q

精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ

显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ/ Rs, Rp, X:±(0.00 m~9.99999 GΩ)

Ls, Lp: ±(0.00000 n~9.99999 GH) / Q:±(0.00~9999.99)

θ:±(0.000°~999.999°), Cs, Cp:±(0.00000 p~9.99999 GF)

D: ±(0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)

G, B: ±(0.000 n~9.99999 GS),Δ%:±(0.000 %~999.999 %)

基本精度 Z: ±0.65 % rdg.θ:±0.38°

测量频率 1 MHz~600 MHz (设置分辨率100kHz)

测量信号电平 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm

电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms

电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms

输出阻抗 50 Ω(10 MHz时)

显示 彩色TFT8.4英寸、触屏

测量时间 最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值）

功能 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿

接口 EXT I/O (处理器), USB通讯,U盘, LAN

RS-232C (选件), GP-IB (选件)

电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max

体积和重量 主机: 215W ×200H×348D mm, 8.0 kg

测试头: 90W×64H×24D mm, 300 g

日置IM7583阻抗分析仪附件 电源线 ×1,测试头×1,连接线 ×1,使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书)×1

日置HIOKI电学测试产品是本公司强项品牌价格非常有优势欢迎询价

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