日置C测试仪3504-60适合用于封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
日置C测试仪3504-60|HIOKI日置电容测试仪3504-60
能根据C和D(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日置C测试仪3504-60|HIOKI日置电容测试仪3504-60
基本参数
测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本精度 (代表值)C: ±0.09% rdg.±10 dgt., D:±0.0016
※测定精度=基本精度×B×C×D×E, B~E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (**3504-60),500 mV, 1 V
日置C测试仪3504-60|HIOKI日置电容测试仪3504-60
测量范围:
CV 100mV:~170μF量程(测量频率1kHz),~1.45mF量程(测量频率120Hz)
CV 500mV: ~170μF量程(测量频率1kHz),~1.45mF量程(测量频率120Hz)
CV 1V: ~70μF量程(测量频率1kHz),~700μF量程(测量频率120Hz)
输出电阻 5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示 发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms(1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量(3504-40除外),触发同步输出,测量条件记忆,测量值的比较功能,平均值功能,Low-C拒绝功能,振动功能,控制用输出输入(EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz,**110VA
体积及重量 260W ×100H×220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1
(日置C测试仪3504-60|HIOKI日置电容测试仪3504-60主机不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)
日置HIOKI电学测试产品是本公司强项品牌价格非常有优势欢迎询价
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