瑞士博势Proceq Equotip 550 Leeb硬度检测仪
产品名称：硬度检测仪
规格型号：Equotip 550 Leeb
品牌厂家：瑞士博势Proceq
瑞士博势Proceq Equotip 550 Leeb硬度检测仪产品简介：
Equotip 550 是便携式硬度检测中功能最齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态（回弹）法，最适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。
结合 Equotip Portable Rockwell 探头，Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。
新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面，提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外，该仪器可兼容后续开发产品。
全彩显示屏使您能够执行**质量的测量和对已测得数据进行分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。
迄今为止，Proceq 的 Equotip 已经成为全球广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置完全满足众多行业对无损硬度检测的要求。
根据需要自动转换至所有通用的硬度单位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL（硬度为 800 HL 时，准确度为 0.5%）
测量范围广泛，可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。
每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和**的硬度测试块，，用于定期验证。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模块化概念： 利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用
组合法： 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值
引导向导： 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量**度
自动验证： 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证
互动指南： 通过屏幕通知为您的应用获取最相关的设置
转换曲线： 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线
自定义报告： 模块化报告处理器允许自定义测量报告
自动选项： 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境
外壳经过特殊设计，可用于严苛的现场环境 (IP 54)，包括背带、集成支架和遮阳盖
高分辨率彩色显示屏
电池使用时长 > 8h
8 GB 闪存
双核处理器，支持各种通信接口和外围接口： 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网
通过直接兼容后续开发产品，实现未来保障投资
里氏回弹硬度检测主要用于金属测量，还可用于复合材料、橡胶和岩石检测
最合适用于材料挑选、验收和生产环节检测
最合适用于重型和大型部件安装前后的现场检测
方便用于难进入或空间有限的金属硬度检测场地
Proceq 提供一些附件，例如一个测量夹或几个支撑脚，适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量
瑞士博势Proceq Equotip 550 Leeb硬度检测仪标准：
ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859
DIN 50156
GB/T 17394
**/T 9378
准则
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
瑞士博势Proceq Equotip 550 Leeb硬度检测仪技术参数： | |
显示屏 | 7” 彩色显示屏 800 x 480 像素 |
内存 | 内置 8 GB 闪存 |
区域设置 | 公制和英制单位，支持多种语言和时区 |
电池 | 锂聚合物，3.6 V、14.0 Ah |
电池使用时长 | > 8h（标准操作模式下） |
电源输入 | 12 V +/-25 % / 1.5 A |
重量（显示装置） | 大约 1525 g（含电池） |
尺寸 | 250 x 162 x 62 mm |
**海拔 | 2500 mm 海拔高度 |
湿度 | < 95 %RH，非冷凝 |
操作温度 | 0°C 至 30°C（32 至 86°F） |
环境 | 适合室内与室外使用 |
IP 等级 | IP 54 |
污染等级 | 2 |
安装类别 | 2 |
| |
测量范围 | 1-999 HL |
测量精度 | ± 4 HL（800 HL 时为 0.5 %） |
分辨率 | 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB； |
冲击方向 | 自动补偿（DL 探头除外） |
冲击能量 | D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm DL 探头为 11.1 Nmm C 探头为 3.0 Nmm G 探头为 90.0 Nmm |
冲击体质量 | D、DC、E、S 探头为 5.45 克（0.2 盎司） DL 探头为 7.25 克（0.26 盎司） C 探头为 3.10 克（0.11 盎司） G 探头为 20.0 克（0.71 盎司） |
球压头 | C、D、DC 探头为碳化钨，直径 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探头为碳化钨，直径 2.78 毫米 G 探头为碳化钨，直径 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探头为陶瓷，直径 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探头为多晶金刚石，直径 |
操作温度 | –10˚C 至 50˚C（14 至 122°F） |
保修
电子部件的保修期统一为 2 年
可选择最多3年时间的有偿续保修
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