德国EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪
产品名称：涂层测厚仪
规格型号：MiniTest 720/730/740
品牌厂家：德国EPK
德国EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪产品介绍：
创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的**性
测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
德国EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪产品优点：
SIDSP使测量不受干扰，测值更加**
可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）
FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高**度的特征曲线
大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
菜单指引操作，25种语言可选
带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
可下载更新软件
德国EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪技术规格：
主机
型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置探头 | 外置探头 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | 最多10,000个 | 最多10,000个 | 最多100,000个 |
统计值 | 读值个数，最小值，**值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准， 使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）230g（外置） |
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
**度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
最小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
最小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
最小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
最小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
最小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
测量速度 | 连续模式每秒20个读数,单值模式下每分钟70个读数 | |||||
德国EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪标准配置：
带牛津包及肩带
MINITEST 720(内置探头)
或MINITEST 730（外置探头）
或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
2节AA电池
德国EPK MiniTest720/730/740涂层测厚仪推荐配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
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